特許
J-GLOBAL ID：200903049569096418
放射分析装置
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
杉村 暁秀 (外5名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-114901
公開番号（公開出願番号）：特開平5-126767
出願日： 1992年05月07日
公開日（公表日）： 1993年05月21日
要約：
【要約】【目的】 簡単な構成で分析精度が一層向上した放射分析装置を提供する。【構成】 シュミレートされたビーム経路を記録する手段を含み、放射光のずれ及び分析装置又は試料における他のずれを検出信号に基いて補正する。この補正を行うことにより分析装置における多数の設定の自由度が達成され、普遍的な用途に適合させることができる。
請求項（抜粋）：
放射源と、分析されるべき試料から放出された放射を検出する放射検出器とを具える放射分析装置において、放射に関する情報を発生及び処理する装置を具え、装置内におけるずれを補正する補正信号を発生させるように構成したことを特徴とする放射分析装置。
IPC (2件)：
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