特許
J-GLOBAL ID：200903049580003081
FDD周波数特性試験装置
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
小鍜治 明 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-309004
公開番号（公開出願番号）：特開平7-169001
出願日： 1993年12月09日
公開日（公表日）： 1995年07月04日
要約：
【要約】【目的】 情報記憶再生装置における信号処理ユニットの増幅処理での周波数特性を測定し、信号処理ユニットの試験を確実、迅速かつ定量的に行う。【構成】 パーソナルコンピュータ11から周波数特性コントローラ12に試験プログラムをダウンロードし、信号処理ユニット15の試験の条件設定及びネットワークアナライザ13の試験起動並びに測定データの判定を行うとともに、ライン制御用シーケンスコントローラ16の制御を行う。試験プログラムに基づいて測定した試験データは、周波数特性コントローラ12を通じてパーソナルコンピュータ11で取り込んで信号処理ユニット15の試験結果である周波数特性データを解析する。さらに、解析した周波数特性データを画面表示するとともに、ハードコピーとして出力する。また、記憶して以降の測定の際に利用する。
請求項（抜粋）：
情報記憶再生装置における信号処理ユニットの周波数特性を試験するための試験プログラムを格納し、かつ、得られた試験データを解析する試験解析手段と、前記試験解析手段からの試験データに基づいて周波数特性を制御する周波数特性制御手段と、前記周波数特性制御手段を通じて前記信号処理ユニットの周波数特性を測定した試験データを出力する周波数特性測定手段とを備えるFDD周波数特性試験装置。
IPC (3件)：
G11B 5/00
, G01R 31/00
, G11B 5/09 361
