特許
J-GLOBAL ID:200903049581679321

超音波パルスエコー装置及び該装置を用いた超音波診断装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 高橋 和彦
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平6-283920
公開番号(公開出願番号):特開平7-250835
出願日: 1994年10月25日
公開日(公表日): 1995年10月03日
要約:
【要約】【構成】 各試料容積に超音波のパルスを繰返し照射する手段; 照射源から前記試料容積までの深さの関数として超音波エコー情報を獲得する手段; 深さと照射の繰返しに対応する前記超音波エコー情報の2次元自己相関を実施する手段; および、速度推定値を計算するための前記2次元自己相関手段に応答する手段、からなるドップラ推算により該試料容積での流れ速度を推算する2次元自己相関処理による超音波パルスドップラ流れ測定装置及び該装置を用いた超音波診断装置。【効果】受信エコー信号の帯域に存在する全ての情報成分を利用するので、測定対象の深さに依存する周波数の減少、干渉信号の打ち消しに起因する不正確さ等を防止することができる。特に、遅い流れの状態において、より良い性能、より良い時間的および空間的解像度、そして改善された雑音感度が得られる。
請求項(抜粋):
試料容積に超音波のパルスを繰返し照射する手段;照射源から前記試料容積までの深さの関数として超音波エコー情報を獲得する手段;深さと照射の繰返しに対応する前記超音波エコー情報の2次元自己相関を実施する手段; および速度推定値を計算するための、前記2次元自己相関を実施する手段に応答する手段、からなるドップラ推算により該試料容積での流れ速度を推算するための超音波診断装置。
引用特許:
審査官引用 (9件)
  • 特開平1-155830
  • 特開昭62-227328
  • 特開昭61-025536
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