特許

J-GLOBAL ID：200903049591898315

半導体集積回路装置およびパルスの測定方法

発明者： 林 秀樹
出願人/特許権者： 株式会社日立製作所 ,  株式会社日立超エル・エス・アイ・システムズ
代理人 (1件)： 筒井 大和
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-097185
公開番号（公開出願番号）：特開2000-292497
出願日： 1999年04月05日
公開日（公表日）： 2000年10月20日
要約：

【要約】【課題】 内部生成されたパルス信号のパルス幅を簡単な回路構成で、かつ高精度に測定することができる。【解決手段】 書き込みパルス生成回路4に設けられた論理積回路11,12、論理和回路14,15、論理積回路17〜20、および否定論理積回路22,23の出力を診断制御デコーダCDのデコード信号DS0〜DS9により制御することによって書き込みパルス生成回路4における単一経路の発振ループをそれぞれ形成する。形成されたそれぞれの発振ループから出力される発振波形を測定し、その周期から書き込みパルス生成回路4が生成するパルス幅を算出することにより、データ書き込みパルスWPの評価を容易にすることができる。

請求項（抜粋）：

入力されるクロック信号から内部パルス信号を生成し、かつ第1の制御信号に基づいて信号出力の制御を行い、複数の信号経路を単一の信号経路にそれぞれ形成するパルス生成制御部と、第2の制御信号に基づいて、前記パルス生成制御部における入力部と、出力部とを接続し、前記パルス生成制御部に形成された単一の信号経路による発振ループを形成する信号経路制御部とよりなるパルス信号生成手段を備えたことを特徴とする半導体集積回路装置。

IPC (3件)：

G01R 31/28 ,  G01R 31/319 ,  G11C 29/00 675

FI (3件)：

G01R 31/28 U ,  G11C 29/00 675 M ,  G01R 31/28 R