特許
J-GLOBAL ID:200903049605822740

磁気探傷装置の電磁場解析方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 杉信 興
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平6-077196
公開番号(公開出願番号):特開平7-286991
出願日: 1994年04月15日
公開日(公表日): 1995年10月31日
要約:
【要約】【目的】 磁気探傷装置における漏洩磁束分布を精度良く解析する。【構成】 磁気探傷装置の解析モデルにおける欠陥領域を、所定の有限要素数で分割し、欠陥領域に隣接する領域および磁気センサの領域を欠陥領域と同じ寸法の有限要素で分割し、それ以外の解析領域は、分割領域が前記の領域から離れるにつれて、要素の寸法を1.1から2.0の範囲で選ばれる倍率だけ大きくして分割を行う。また要素の短辺と長辺の長さの比で定義される偏平率が、100を越えないように分割を行う。
請求項(抜粋):
磁気を応用した疵検査装置における漏洩磁束分布を、マクスウェルの方程式を有限要素法で数値計算することによって解析する方法において、前記疵検査装置の解析モデルにおける欠陥領域を所定の有限要素数で分割し、次に欠陥領域に隣接する領域および磁気センサの領域を欠陥領域と同じ寸法の有限要素で分割し、それ以外の解析領域は、分割領域が前記欠陥領域,欠陥に隣接する領域,磁気センサ領域から離れるにつれて、有限要素の寸法を所定の倍率だけ大きくして分割を行うアルゴリズムによってモデルの有限要素分割を行うことを特徴とする磁気探傷装置の電磁場解析方法。
IPC (3件):
G01N 27/83 ,  G01R 33/10 ,  G06F 17/13
引用特許:
審査官引用 (2件)
  • 電磁場解析方法
    公報種別:公開公報   出願番号:特願平3-302354   出願人:新日本製鐵株式会社
  • 有限要素解析装置
    公報種別:公開公報   出願番号:特願平3-186262   出願人:松下電器産業株式会社

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