特許
J-GLOBAL ID:200903049606842648
改良された感度のためのイオントラップ質量分析計方法 および装置
発明者:
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出願人/特許権者:
代理人 (1件):
竹内 澄夫 (外2名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平6-024807
公開番号(公開出願番号):特開平6-318448
出願日: 1994年01月27日
公開日(公表日): 1994年11月15日
要約:
【要約】 (修正有)【目的】 イオントラップ質量分析計の感度を改良し、低価格で簡単であり、調節可能であり、不均衡なイオントラップを得る。【構成】 四極子イオントラップは、リングエレクトロード1と、上方のエンドキャップ2Aと、下方のエンドキャップ2Bとから成る。イオン検出器/電子倍率器14がエンドキャップ2Bの下方に示され、エンドキャップ2Bは、中央に貫通部(図示せず)を有し、そこを通じて検出器へイオンを通過させる。サンプル原子をトラップに導入しイオン化することによって、イオンがトラップで創られるか或いはトラップに注入される。周波数WOおよびDC電圧UにおけるRFトラッピング電圧Vがトラップに印加され、エンドキャップ2Aおよび2Bとエレクトロード1の形状のため、復元力が創られてトラップパラメータaZおよびqZと方程式によって決定されるようなVおよびUの振幅および周波数との間の周知の関係に従って正確にイオンをトラップする。
請求項(抜粋):
四極子イオントラップ(QIT)分析計の感度を改良するための方法において、前記QITが、リングエレクトロードと、一対のエンドキャップと、RFトラッピング周波数Woと振幅Vとを有するRFトラッピング電圧ソースと、時間の関数としてのトラッピングRF振幅Vを変化させる手段とを有し、(a)前記RFトラッピング電圧VをRF周波数Woで前記リングエレクトロードに印加する工程と、(b)前記QITでサンプルのイオンを与える工程と、(c)前記QIT内で、純四極子場ではないような場を変化させる工程と、(d)トラッピング電圧の振幅を走査する工程と、(e)前記QITから放出されるイオンを検出する工程と、(f)検出されたイオン数と共に前記トラッピング電圧の瞬間の振幅を相互関連させることによって前記サンプルの質量スペクトルを創る工程とを含み、改良された方法が、前記QIT内で純四極子場ではないような場を変化させる前記工程(c)が、前記四極子場でAC場をスーパーインポジションすることを含み、前記四極子場が四極子場よりも低オーダーである、ところの改良された方法。
引用特許:
審査官引用 (3件)
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特開昭63-313460
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特開昭62-037861
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特開昭63-276863
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