特許
J-GLOBAL ID：200903049695991864
ソフトウェアテスト項目表示処理方式
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
森田 寛 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-008003
公開番号（公開出願番号）：特開平5-197590
出願日： 1992年01月21日
公開日（公表日）： 1993年08月06日
要約：
【要約】【目的】 本発明は、ソフトウェアテスト項目表示処理方式に関し、テスト項目を削減しテスト要因を明確化することを目的とする。【構成】 テスト項目最適化処理部4が、テスト項目表1のテスト項目のうちテスト要因-抽出条件関連表2で指定されたテスト要因を含むテスト項目が複数ある場合に、その1つのテスト項目についてその指定されたテスト要因以外のテスト要因を所定の内容に置換すると共に、その他のテスト項目を省略する。
請求項（抜粋）：
各々が複数のテスト要因を組合せてなる複数のテスト項目からなるテスト項目表(1)と、前記複数のテスト要因のうち有効なテスト項目として抽出する必要のないテスト要因を指定するテスト要因-抽出条件関連表(2)と、前記テスト要因-抽出条件関連表(2)を用いて前記テスト項目表(1)を最適化するテスト項目最適化処理部(4)とを備え、前記テスト項目最適化処理部(4)が、前記テスト項目表(1)の前記テスト項目のうち前記テスト要因-抽出条件関連表(2)で指定されたテスト要因を含むテスト項目について、当該テスト項目のうち当該指定されたテスト要因以外のテスト要因を所定の内容に置換することを特徴とするソフトウェアテスト項目表示処理方式。
IPC (2件)：
G06F 11/28 340
, G06F 9/06 440
