特許
J-GLOBAL ID：200903049697180049
テストストリップ分析システム
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
朝日奈 宗太 (外3名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平6-057035
公開番号（公開出願番号）：特開平6-308033
出願日： 1994年03月28日
公開日（公表日）： 1994年11月04日
要約：
【要約】【構成】 テストストリップ収容手段(3)がテストフィールド領域(13)の中央平面(22)よりも高くなっており、測定位置にあるテストストリップ(4)の前部を支持するための支持手段、および測定位置において支持手段(24)とテストフィールド領域(13)の間の位置でテストストリップ(4)の第2面を押しつける押圧エレメント(33)を含んでなり、そのためテストストリップ(4)は測定位置において曲げ押力に付され、その曲げ押力によって前記少なくとも1つのテストフィールド(6)の測定ユニット(11)からの前記一定距離が確保されることを特徴とするテストストリップ分析システム。【効果】 簡単で確実な取扱いで分析装置における測定ユニットに関するテストストリップの正確な位置決めが可能な、安価なシステムが提供される。
請求項（抜粋）：
測定ユニット(11)に関して定められた測定位置にテストストリップ(4)を位置決めするためのテストストリップ収容手段(3)を有する分析装置(2)、ならびに前端(10)、取扱端(16)、該取扱端(16)と前記前端(10)との間に少なくとも1つのテストフィールド(6)を有するテストフィールド領域(13)、該テストフィールド領域(13)と前記前端(10)との間の前部(12)および前記テストフィールド領域(13)と取扱端(16)との間の取扱部(15)を有するテストストリップ(4)を含んでなるテストストリップ分析システムであって、前記テストストリップ収容手段(3)は、テストストリップが該テストストリップ収容手段(3)に挿入されるときに該テストストリップを横方向について導くためのガイド手段(40)、テストストリップ収容手段(3)中のテストストリップ(4)の測定位置にあって、テストストリップ(4)の凹所(17)とかみ合う固定手段(25)、およびテストストリップ(4)の第1面が載せられてそのテストフィールド領域(13)が測定ユニット(11)から定められた距離になるようなテストストリップシート手段(20)を含んでなっており、テストストリップ収容手段(3)がテストフィールド領域(13)の中央平面(22)に関して垂直方向に補われ、測定位置にあるテストストリップ(4)の前部を支持するための支持手段、および測定位置において支持手段(24)とテストフィールド領域(13)の間の位置でテストストリップ(4)の第2面を押しつける押圧エレメント(33)を含んでなり、そのためテストストリップ(4)は測定位置において曲げ押力に付され、その曲げ押力によって前記少なくとも1つのテストフィールド(6)の測定ユニット(11)からの前記定められた距離が確保されることを特徴とするテストストリップ分析システム。
IPC (4件)：
G01N 21/78
, G01N 31/22
, G01N 33/52
, G01N 35/04
