特許
J-GLOBAL ID:200903049719177462

単純マトリックス型液晶パネルの検査方法及び検査装置、プラズマディスプレイパネルの検査方法及び検査装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 丸山 幸雄
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2000-009287
公開番号(公開出願番号):特開2001-201753
出願日: 2000年01月18日
公開日(公表日): 2001年07月27日
要約:
【要約】【課題】 より簡単に電極の断線を検査し得る単純マトリックス型液晶パネルの検査方法及び検査装置、プラズマディスプレイパネルの検査方法及び検査装置を提供すること。【解決手段】 パネルBが有する複数本の電極100及び101の断線を検査するための検査方法であって、電極100又は101のいずれか一つを選択し、選択した電極101aの一端に時間的に変化する電圧を供給し、選択した電極101aに直交する電極100aについて、電極101aに対する電圧の供給により静電容量を介して現れる電圧を計測し、計測した電圧が予め定めた範囲にあるか否かをコンピュータ6により判定し、電極101aに断線が生じているか否かを判定する。
請求項(抜粋):
単純マトリックス型液晶パネルが有する複数本の電極の断線を検査するための検査方法であって、前記電極のいずれか一つを選択し、選択した電極の一端に時間的に変化する電圧を供給する工程と、前記選択した電極に直交する複数の前記電極のうちのいずれかの電極について、前記電圧の供給により現れる電圧を計測する計測工程と、前記計測した電圧が、予め定めた範囲にあるか否かに基づいて、前記選択した電極が、前記一端から前記計測工程において電圧を計測した前記電極に至るまでの間の部分で、断線が生じているか否かを判定する判定工程と、を含むことを特徴とする単純マトリックス型液晶パネルの検査方法。
IPC (4件):
G02F 1/1343 ,  G01R 31/02 ,  G09G 3/20 670 ,  G09G 3/36
FI (4件):
G02F 1/1343 ,  G01R 31/02 ,  G09G 3/20 670 A ,  G09G 3/36
Fターム (23件):
2G014AA02 ,  2G014AB21 ,  2G014AC08 ,  2H092GA05 ,  2H092GA33 ,  2H092GA41 ,  2H092JB77 ,  2H092MA56 ,  2H092NA25 ,  2H092NA27 ,  2H092NA30 ,  2H092PA06 ,  2H092QA07 ,  2H092QA10 ,  5C006AF53 ,  5C006BB12 ,  5C006EB01 ,  5C080AA05 ,  5C080AA10 ,  5C080BB05 ,  5C080DD15 ,  5C080DD28 ,  5C080JJ02

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