特許

J-GLOBAL ID：200903049779039719

液晶表示素子及びその検査方法

発明者： 筒井 隆司 ,  高橋 久雄 ,  鴨井 澄男 ,  田中 雅樹 ,  池口 弘
出願人/特許権者： 株式会社リコー
代理人 (1件)： 有我 軍一郎
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-002975
公開番号（公開出願番号）：特開平6-208122
出願日： 1993年01月12日
公開日（公表日）： 1994年07月26日
要約：

【要約】【目的】 本発明は、液晶表示素子及びその検査方法に関し、検査員の熟練度に左右されることなく上下電極パターンの位置ずれの良否判定を短時間で、かつ確実に、しかも容易に行うことができる液晶表示素子及びその検査方法を提供することを目的とする。【構成】 液晶表示素子の上下基板に各々上下電極パターン相対位置ずれ検査用マークが表示パターンと同一の透明電極で形成されるとともに、電圧印加できるように何れかのセグメント及びコモン電極端子に接続され、かつ外周シールより内側の液晶層が存在する領域に配設されてなるように構成する。

請求項（抜粋）：

液晶表示素子の上下基板に各々上下電極パターン相対位置ずれ検査用マークが表示パターンと同一の透明電極で形成されるとともに、電圧印加できるように何れかのセグメント及びコモン電極端子に接続され、かつ外周シールより内側の液晶層が存在する領域に配設されてなることを特徴とする液晶表示素子。

IPC (2件)：

G02F 1/1343 ,  G01R 31/00

引用特許：

審査官引用 (3件)

• 特開昭61-235882
  
• 特開平4-005618
  
• 特開昭60-195520