特許
J-GLOBAL ID：200903049782527333
実装基板外観検査における不良箇所指示装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
京本 直樹 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-141221
公開番号（公開出願番号）：特開平5-332948
出願日： 1992年06月02日
公開日（公表日）： 1993年12月17日
要約：
【要約】【目的】はんだ付けまたは部品実装外観検査装置による不良箇所を画像で表示することにより、作業効率と作業品質を向上させる。【構成】検査結果データ読込み部1は実装基板の外観検査の検査結果を読み込み、基板情報記憶部2は対象とする実装基板に関する情報を記憶し、基板画像記憶部3は対象とする実装基板の部品搭載面の全域を所定の視野寸法で分割撮像した画像を登録する。画像合成表示部4は、実装基板の不良箇所を実装基板レイアウト上で不良情報とともに合成表示する。基準画像記憶部5は、搭載部品の良品と不良品に関する限度見本品の画像を格納し、また検査画像読見込み部6は検査した不良箇所の画像を格納し、これら基準画像と検査画像を画像合成表示部4に併示することによって不良箇所の指示をさらに確実化,能率化する。
請求項（抜粋）：
部品取付後の完成品としての実装基板に対する外観検査の検査結果を読み込む検査結果読込み部と、対象とする実装基板の種類別の部品搭載情報を登録した基板情報記憶部と、対象とする実装基板の部品搭載面の全域を所定の視野寸法で分割撮像した画像を登録した基盤画像記憶部と、前記外観検査の検査結果が不良と判定された不良箇所を実装基板全体のレイアウト上で指定し、かつ前記不良箇所を含む近傍の画像を前記基板画像記憶部から選択抽出して、前記不良箇所の記号,位置および不良の内容を含む不良情報とともに合成表示する画像合成表示部とを備えることを特徴とする実装基板外観検査における不良箇所指示装置。
IPC (4件)：
G01N 21/88
, G01B 11/24
, H05K 3/34
, H05K 13/08
