特許
J-GLOBAL ID：200903049814176236
マイクロチップのサンプル導入方法
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
野口 繁雄
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-242785
公開番号（公開出願番号）：特開2000-074880
出願日： 1998年08月28日
公開日（公表日）： 2000年03月14日
要約：
【要約】【課題】 電圧印加方向切替えの遅れやばらつきによる不具合を抑制する。【解決手段】 サンプル流路4の一端を1.3kV、他端をGND、分析流路5の一端を1.1kV、他端を1.9kVの電位にして、サンプルを交差部6付近に移動させ(A)、次いでサンプル流路4及び分析流路5の電位を1/10にして電気浸透速度及びサンプルの移動速度を小さくし、サンプルを交差部6に導く(B)。電圧印加方向を切り替えて、分析流路5の一端を0.11kV、他端をGND、サンプル流路4の両端をフローティングの電位にする(C)。電気浸透速度及びサンプルの移動速度は小さいので、電圧印加方向の切替えの遅れやばらつきが生じても、サンプルプラグの広がりや余分な移動を抑制できる。
請求項（抜粋）：
透明板状部材の内部に分析流路とその分析流路に交差するサンプル流路が形成され、その透明板状部材の一表面の分析流路及びサンプル流路に対応する位置に分析流路又はサンプル流路に達する穴が形成されたマイクロチップを用い、前記サンプル流路の両端にサンプル移動用の電圧を印加して、前記サンプル流路の一端側に注入されたサンプルを前記分析流路と前記サンプル流路の交差部に導き、その後、電圧印加方向を切り替えて前記分析流路の両端にサンプルの分離分析用の電圧を印加してサンプルを前記分析流路に導入するマイクロチップのサンプル導入方法において、少なくとも前記電圧印加方向の切替え時には前記サンプル流路での電気浸透流を抑えておくことを特徴とするマイクロチップのサンプル導入方法。
FI (2件)：
G01N 27/26 331 H
, G01N 27/26 331 E
