特許
J-GLOBAL ID：200903049817275677
最適設計支援装置および方法ならびに電磁測定装置
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
富田 和子
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-214762
公開番号（公開出願番号）：特開平11-053422
出願日： 1997年08月08日
公開日（公表日）： 1999年02月26日
要約：
【要約】【課題】 電気機器の部品における物性値の分布を最適化することを支援する。【解決手段】 目標電磁場分布および設計評価関数を入出力処理部520により受け付け、少なくとも1種の決定パラメータ分布を含むパラメータ分布での電磁場分布を電磁場分布計算部540により求め、求めた電磁場分布および上記目標電磁場分布の差分布が最小となるように、決定パラメータ分布をパラメータ分布最適化部560により改善し、上記設計評価関数の値が収束条件を満たすとき、決定パラメータ分布を入出力部520により表示し、そうでなければ、改善された決定パラメータを電磁場分布計算部540に送り、処理を反復する。
請求項（抜粋）：
電磁場に関する最適設計を支援するための最適設計支援装置において、電磁場における現象を表す支配方程式、最適設計の目標を表す設計評価関数、および、決定すべき決定パラメータ分布の初期設定値を受け付け、かつ、最適化した決定パラメータ分布を出力するための入出力処理手段と、決定パラメータ分布を含むパラメータ分布における電磁場分布を上記支配方程式に基づいて求めるための電磁場分布計算手段と、上記設計評価関数が最小となるように、最適化されたパラメータ分布を求めるためのパラメータ分布最適化手段とを備え、上記パラメータ分布最適化手段は、上記決定パラメータ分布の変化に伴って上記設計評価関数が変動する感度の分布を示す決定パラメータ感度分布を求めるためのパラメータ感度分布計算手段と、上記決定パラメータ感度分布を用いて、上記設計評価関数が小さくなるように改善された決定パラメータ分布を求めるためのパラメータ分布計算手段とを有して構成されることを特徴とする最適設計支援装置。
IPC (2件)：
FI (3件)：
G06F 15/60 612 H
, G01R 29/08 Z
, G06F 15/60 680 Z
