特許

J-GLOBAL ID：200903049823896020

全反射減衰を利用したセンサー

発明者： 清水 仁
出願人/特許権者： 富士写真フイルム株式会社
代理人 (1件)： 柳田 征史 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-383236
公開番号（公開出願番号）：特開2003-185570
出願日： 2001年12月17日
公開日（公表日）： 2003年07月03日
要約：

【要約】【課題】 全反射減衰を利用したセンサーにおいて、測定精度を低下させることなく、センシング物質および試料液の温度を高精度に制御する。【解決手段】 誘電体ブロック10と、光ビーム13を発生させる光源14と、光ビーム13を誘電体ブロック10と金属膜12との界面10bに対して種々の入射角が得られるように入射させる光学系15と、上記界面10bで全反射し平行光化された光ビーム13を検出するフォトダイオードアレイ17とを備えた全反射減衰を利用したセンサーにおいて、センシング物質30および試料液11の温度を制御するために、温調台50と、該温調台50を加熱するペルチェ素子52と、放熱板51とを設ける。温度制御を行う際に、温度変化によりペルチェ素子52が伸縮しても、ペルチェ素子52および温調台50がスライダ53上を界面10bと平行な方向へ移動するため、界面10bが上下方向へ移動したり、傾くことがなく、測定精度の低下が防止される。

請求項（抜粋）：

光ビームを発生させる光源と、前記光ビームに対して透明な誘電体ブロックと、この誘電体ブロックの一面に形成されて、試料に接触させられる薄膜層と、前記光ビームを前記誘電体ブロックに対して、該誘電体ブロックと前記薄膜層との界面で全反射条件が得られるように種々の入射角で入射させる光学系と、前記界面で全反射した光ビームの強度を測定して、全反射減衰の状態を検出する光検出手段と加熱または冷却を行う温度制御素子を用いて、前記試料の温度を制御する温度制御手段とを備えてなる全反射減衰を利用したセンサーにおいて、前記温度制御素子の温度変化による伸縮により、前記界面が上下方向に移動することおよび傾くことを防止する位置変動防止機構をさらに備えたことを特徴とする全反射減衰を利用したセンサー。

IPC (2件)：

G01N 21/27 ,  G01N 21/01

FI (2件)：

G01N 21/27 C ,  G01N 21/01 C

Fターム (20件)：

2G059AA01 ,  2G059BB04 ,  2G059BB12 ,  2G059CC16 ,  2G059DD03 ,  2G059DD16 ,  2G059EE02 ,  2G059EE04 ,  2G059FF12 ,  2G059GG01 ,  2G059GG02 ,  2G059JJ11 ,  2G059JJ12 ,  2G059KK04 ,  2G059LL01 ,  2G059MM01 ,  2G059MM09 ,  2G059MM11 ,  2G059NN02 ,  2G059NN06