特許

J-GLOBAL ID：200903049892190091

X線診断方法及びその装置

発明者： 本田 道隆
出願人/特許権者： 株式会社東芝
代理人 (1件)： 鈴江 武彦
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-175776
公開番号（公開出願番号）：特開平6-014911
出願日： 1992年07月02日
公開日（公表日）： 1994年01月25日
要約：

【要約】【目的】 被写体へのX線照射量を増加することなく、高精度の定量性をもって診断を行うことができるX線診断方法及びその装置を提供すること。【構成】 本発明のX線診断方法は、被写体を透過するX線を検出する検出器から出力されるX線データに基づいて画像を表示するX線診断装置において、前記被写体を構成する物質のそれぞれの厚さに基づいて前記被写体を構成する物質毎に散乱X線像の分布をそれぞれ推定するステップと、物質毎に推定された前記散乱X線像の和をとって得られた散乱X線像を前記原画像から除去するステップと、を備えた。

請求項（抜粋）：

被写体を透過するX線を検出する検出器から出力されるX線データに基づいて画像を表示するX線診断方法において、前記被写体を構成する物質のそれぞれの厚さに基づいて前記被写体を構成する物質毎に散乱X線像の分布をそれぞれ推定するステップと、物質毎に推定された前記散乱X線像の和をとって得られた散乱X線像を原画像から除去するステップと、を具備することを特徴とするX線診断方法。