特許
J-GLOBAL ID：200903049908840059
粒子径分布測定装置
出願人/特許権者：
株式会社堀場製作所
株式会社堀場製作所 について
代理人 (1件)： 藤本 英夫
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2002-115166
公開番号（公開出願番号）：特開2003-315243
出願日： 2002年04月17日
公開日（公表日）： 2003年11月06日
要約：
【要約】【課題】 比較的小さい散乱角の散乱光を検出するためのフォトダイオードアレイ検出器を安価なもので構成しながらも精度よく測定を行うことができる粒子径分布測定装置を提供すること。【解決手段】 光源3と、この光源3からの光5が照射される試料セル1と、この試料セル1において生ずる透過光5および所定の散乱光7,10を検出する第1アレイ検出器6と、前記試料セル1の前方かつ前記第1アレイ検出器6の後方に配置され、第1アレイ検出器6によって検出される散乱光7の散乱角と連続する角度から所定角度の散乱光10までを検出する第2アレイ検出器9とを備えている。
請求項（抜粋）：
光源と、この光源からの光が照射される試料セルと、この試料セルにおいて生ずる透過光および所定の散乱光を検出する第1アレイ検出器と、前記試料セルの前方かつ前記第1アレイ検出器の後方に配置され、第1アレイ検出器によって検出される散乱光の散乱角と連続する角度から所定角度の散乱光までを検出する第2アレイ検出器とを備えたことを特徴とする粒子径分布測定装置。
引用特許：
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