特許
J-GLOBAL ID：200903049918065355

X線露出制御の方法及び装置

発明者：
ヨーアヒム ブレンドラー

ヨーアヒム ブレンドラー について

, 
ホルスト アルメンディンガー

ホルスト アルメンディンガー について


出願人/特許権者：
コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ

コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ について


代理人 (1件)： 伊東 忠彦 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2002-130923
公開番号（公開出願番号）：特開2003-031397
出願日： 2002年05月02日
公開日（公表日）： 2003年01月31日
要約：
【要約】【課題】変動するX線吸収を伴う対象の動的なX線検査用の露出制御方法、及び該方法を実行する自動露出制御ユニットを含むX線発生器を提供する。【解決手段】本方法及びデバイスは、露出開始電圧及び最大露出時間を定義することができる。運動による画像の不鮮明を回避するために、これらの変数は、限度を超えてはならない。露出の開始において対象のX線吸収を測定し、非常に短い時間周期内で、露出制御器の動作範囲が、露出開始電圧を一定に保つと同時に露出時間を変動させることによって露出を既知の方式で制御するか、又は、比較的高い吸収及び/又は比較的小さい最大露出時間の場合には、最大露出時間で露出電圧を変化させて露出を制御する、という点で選択される。
請求項（抜粋）：
対象の動的X線検査の間に実行されるX線の露出を制御する方法であって、前記露出に対して、原則として限度を超えてはならない最大露出時間を予め設定するステップと、前記検査をされる前記対象に依存してX線管に対する露出電圧を予め設定するステップと、前記X線露出を開始して前記対象のX線吸収を測定するステップと、前記X線吸収が第一の閾値以上である場合には、前記最大露出時間で前記露出電圧を変化させることによって、前記露出を制御するステップ、又は前記X線吸収が前記第一の閾値未満である場合には、一定の前記露出電圧で前記露出の時間を変化させることによって前記露出を制御するステップと、を含むことを特徴とする方法。
IPC (5件)：
H05G 1/44 ,  G21K 1/04 ,  G21K 5/00 ,  G21K 5/02 ,  H05G 1/46
FI (5件)：
H05G 1/44 A ,  G21K 1/04 Z ,  G21K 5/00 A ,  G21K 5/02 X ,  H05G 1/46
Fターム (12件)：
4C092AA01 ,  4C092AB03 ,  4C092AC01 ,  4C092AC03 ,  4C092AC14 ,  4C092CC03 ,  4C092CC06 ,  4C092CD02 ,  4C092CD06 ,  4C092CF14 ,  4C092CF24 ,  4C092CF42
引用特許：
出願人引用 (1件)
  • X線シネ撮影装置
    公報種別：公開公報   出願番号：特願平10-177530   出願人：株式会社島津製作所
審査官引用 (1件)
  • X線シネ撮影装置
    公報種別：公開公報   出願番号：特願平10-177530   出願人：株式会社島津製作所

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