特許
J-GLOBAL ID：200903050076057489

低温物体の非接触高速温度測定方法及び装置

発明者：
山下 宣明

山下 宣明 について


出願人/特許権者：
愛知計装株式会社

愛知計装株式会社 について


代理人 (1件)： 岡部 正夫 (外5名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-133385
公開番号（公開出願番号）：特開平6-341906
出願日： 1993年06月03日
公開日（公表日）： 1994年12月13日
要約：
【要約】【目的】 連続して搬送される大きさの異なる低温対象物の表面温度を非接触で高速に測定する放射温度計を提供する。【構成】 チョッパレスタイプの放射温度計を恒温ケース内に収容し、測定された対象物の温度値に対して外部環境からの放射温度補正及び、表面温度から内部温度を予測する内部温度補正を加える。さらに、対象物の大きさによる影響を除外するために移動補正を加える。
請求項（抜粋）：
チョッパレスタイプの放射温度計を恒温ケース内に保持して所定温度に保ち、対象物からの熱放射から対象物の温度を測定する際に、TCx=Tx+K1・(Ta-Tb)+K2但し、TCx:補正済み測定温度Tx :測定温度Ta :環境温度Tb :基準温度K1,K2:定数によって規定される温度補正を加えることによって周囲熱源による反射熱の影響を除去することを特徴とする非接触温度測定方法。
引用特許：
審査官引用 (4件)
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