特許
J-GLOBAL ID：200903050084057633
位置測定装置、位置測定方法、形状測定装置及び形状測定方法
発明者：
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出願人/特許権者：
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代理人 (1件)：
田辺 恵基
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-097575
公開番号（公開出願番号）：特開平9-264737
出願日： 1996年03月27日
公開日（公表日）： 1997年10月07日
要約：
【要約】【課題】3次元空間の所定の一点を簡易な構成で高精度に測定することができなかつたため、物体の形状を簡易な構成で高精度に測定することができなかつた。【解決手段】それぞれ異なる位置に配置された複数の測定手段から3次元空間の所定の一点までの距離に基づいて、当該所定の一点の3次元空間における位置を演算手段によつて算出する。これにより、3次元空間の所定の一点の位置を複数の測定手段からの距離として算出し得るので、3次元空間の所定の一点の位置を3次元的な位置として精度良く算出し得、かくして3次元空間の所定の一点を簡易な構成で高精度に測定し得る位置測定装置及び位置測定方法を実現することができる。
請求項（抜粋）：
それぞれ異なる位置に配置され、3次元空間の所定の一点までの距離をそれぞれ測定する複数の測定手段と、上記各測定手段から上記所定の一点までの距離に基づいて当該所定の一点の上記3次元空間における位置を算出する演算手段とを具えることを特徴とする位置測定装置。
IPC (5件)：
G01B 21/00
, G01B 21/20
, H01J 9/42
, H01J 9/50
, H04N 7/18
G01B 21/00 E
, G01B 21/20 F
, H01J 9/42 A
, H01J 9/50 A
, H04N 7/18 C
