特許
J-GLOBAL ID:200903050098237308
質量分析方法及び質量分析システム
発明者:
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出願人/特許権者:
代理人 (2件):
小川 勝男
, 田中 恭助
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2004-248169
公開番号(公開出願番号):特開2006-064562
出願日: 2004年08月27日
公開日(公表日): 2006年03月09日
要約:
【課題】クロマトグラフィー装置により分離された試料をタンデム質量分析するシステムにおいて、高効率・高スループットにタンデム分析を可能とする質量分析システムを提供すること。【解決手段】質量分析装置に対し並列関係に配置された複数のクロマトグラフィー装置を所定の時間差をおいて溶出開始し、後続の質量分析装置により質量分析する方法であって先発のクロマトグラフィー装置におけるクロマトグラムを実時間解析し、上記解析結果を後発のクロマトグラフィー装置の溶出条件の変更に実時間で使用する質量分析方法、及びそれを実施するのに適した質量分析装置システム。【選択図】図1
請求項(抜粋):
質量分析装置に対し並列関係に配置された複数のクロマトグラフィー装置をある時間差を置いて溶出開始し、溶出された試料を後続の質量分析装置により質量分析する方法であって、
先発のクロマトグラフィー装置によって得られたクロマトグラムデータを実時間解析し、
上記先発のクロマトグラフィー装置の実時間解析結果を用いて、後発のクロマトグラフィー装置から溶出された試料を質量分析する際の質量分析条件及び/又は質量分析内容の変更を実時間で行うことを特徴とする質量分析方法。
IPC (6件):
G01N 27/62
, G01N 30/24
, G01N 30/46
, G01N 30/72
, G01N 30/86
, G01N 30/88
FI (9件):
G01N27/62 C
, G01N27/62 X
, G01N30/24 A
, G01N30/46 G
, G01N30/72 A
, G01N30/72 C
, G01N30/86 G
, G01N30/86 R
, G01N30/88 E
引用特許: