特許

J-GLOBAL ID：200903050104350138

偏光性測定方法及び装置

発明者： 豊永 修司 ,  菅 隆之 ,  中野 義太郎 ,  城下 昌久
出願人/特許権者： 株式会社分子バイオホトニクス研究所
代理人 (1件)： 長谷川 芳樹 (外4名)
公報種別：再公表公報
出願番号（国際出願番号）：JP1997003391
公開番号（公開出願番号）：WO1998-013676
出願日： 1997年09月24日
公開日（公表日）： 1998年04月02日
要約：

【要約】試料に光が照射されたことにより発生する蛍光やラマン散乱光の偏光性を精度良く測定する偏光性測定方法および装置である。パルス励起光源(1)から出射され偏光子(2)および1/2波長板(3)によりp偏光とされた励起光を試料(7)に照射し、発生した蛍光のp偏光成分強度Ippおよびs偏光成分強度Ipsを、光検出器(13),(14)により測定する。同様に、s偏光とされた励起光を試料(7)に照射し、蛍光のp偏光成分強度Ispおよびs偏光成分強度Issを測定する。これらの測定値から、なる式でG因子を求め、このG因子に基づいて偏光応答補正を行って蛍光の偏光性を求める。

請求項（抜粋）：

試料に照射する第1の光束および前記試料から発生する第2の光束のうち何れか一方を反射し他方を透過する光束分岐手段を用いて、前記第1の光束を前記光束分岐手段を経て前記試料に照射し、該照射により前記試料から発生し前記光束分岐手段を経た前記第2の光束の偏光性を測定する偏光性測定方法であって、 前記第1の光束を前記光束分岐手段に対してp偏光として前記試料に照射したときに発生する前記第2の光束のp偏光成分の強度Ippおよびs偏光成分の強度Ipsを測定する第1のステップと、 前記第1の光束を前記光束分岐手段に対してs偏光として前記試料に照射したときに発生する前記第2の光束のp偏光成分の強度Ispおよびs偏光成分の強度Issを測定する第2のステップと、 偏光応答補正因子Gを G=[(Ipp・Isp)/(Ips・Iss)]1/2なる式により求める第3のステップと、 前記偏光応答補正因子Gに基づいて偏光応答補正を行って前記第2の光束の偏光性を求める第4のステップと、 を備えることを特徴とする偏光性測定方法。

IPC (4件)：

G01J 4/00 ,  G01N 21/21 ,  G01N 21/64 ,  G01N 21/65