特許
J-GLOBAL ID：200903050120870761
材料試験装置構造
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
坂本 徹 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-014587
公開番号（公開出願番号）：特開平10-197431
出願日： 1997年01月10日
公開日（公表日）： 1998年07月31日
要約：
【要約】【課題】 応力波の分散を抑制することができ、大きな試験片に対しても一次元波動理論に基づく信頼性の高い結果を得ることのできる材料試験装置構造を提供するる。【解決手段】 入力棒と出力棒の間に試験片を配置し、入力棒の端部に打撃棒を衝突させて衝撃を加え、入力棒及び出力棒に設けられた歪みゲージで伝播する応力波による歪みを測定するように構成されたホプキンソン棒法による材料試験装置であって、入力棒20及び出力棒は、小径の単位ロッド21が棒端板22と中間保持板23によって複数平行に集合されて構成されている。
請求項（抜粋）：
入力棒と出力棒の間に試験片を配置し、前記入力棒の端部に打撃棒を衝突させて衝撃を加え、前記入力棒及び出力棒に設けられた歪みゲージで伝播する応力波による歪みを測定するように構成されたホプキンソン棒法による材料試験装置において、前記入力棒及び出力棒は、小径の単位棒部材が複数平行に集合されて構成されていることを特徴とする材料試験装置構造。
IPC (2件)：
FI (2件)：
G01N 3/30 Z
, G01L 1/00 C
