特許
J-GLOBAL ID：200903050126402913
ワーク表面キズ検出方法及び装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
吉田 研二 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-201081
公開番号（公開出願番号）：特開平9-049717
出願日： 1995年08月07日
公開日（公表日）： 1997年02月18日
要約：
【要約】【課題】 ワーク表面にゴミが付着している場合であってもキズのみを検出可能にする。【解決手段】 照明Aによってワーク10の表面を照明しながらCCDカメラ14により撮像した画像に基づき、キズの候補を検出する。検出される候補には、キズによって生じたもののほかワーク10の表面に付着しているゴミによって生じたものも含まれる。照明Bにより照明しながらCCDカメラ14によりワーク10の表面を撮像する。得られた画像上、キズにより明度の低下が生ずるのに対し付着ゴミによってはそのような低下が生じないから、先に検出されている候補中キズのみを選択検出することができる。
請求項（抜粋）：
単一の照明方向からの照明の下ワーク表面を所定方向から撮影するステップと、上記照明方向を適宜変更しながら、上記撮影を複数回繰り返させるステップと、複数回の撮影により得られる複数種類の画像データのうち、ワーク表面の彫りキズ又は付着ゴミの明度がワーク表面の略平坦部分の明度と有意差を有する照明方向に係る画像データから、彫りキズからの散乱を示す可能性のあるキズ候補画像を検出するステップと、上記複数種類の画像データのうち、上記彫りキズ周辺の明度の変化が上記付着ゴミ周辺の明度の変化と有意差を有する照明方向に係る画像データに基づき、彫りキズからの散乱である可能性の高い画像をキズ候補画像のなかから選択検出するステップと、を有することを特徴とするワーク表面キズ検出方法。
IPC (3件)：
G01B 11/30
, G01N 21/88
, G06T 7/00
G01B 11/30 Z
, G01N 21/88 J
, G06F 15/62 400
, G06F 15/70 330 N
