特許
J-GLOBAL ID：200903050128459270
XYインサーキットテスタのテストポイント決定方法
発明者：
出願人/特許権者：
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-232248
公開番号（公開出願番号）：特開平9-080117
出願日： 1995年09月11日
公開日（公表日）： 1997年03月28日
要約：
【要約】【課題】XYインサーキットテスタを使ったショート・テストで、必要最低限度のテストポイントを選択し、限られた時間での充分なテストを可能とする。またプローブ接触ポイントとして、接触の安定なポイントを選択し、テストの安定性を確保する。【解決手段】配線ネット名、部品ピンや配線ビアの位置情報などを含む実装設計情報を元に、処理手段にて位置情報の座標値でソートした座標ファイルを作り(1a)、第1の調査位置とそれに近接する第2の調査位置を選択し(1b)、それぞれの調査位置が属する配線ネットが異なるかどうかを前記配線ネット名により調べ(1c)、異なる場合にはそれら2つの配線ネットの組合せを選択された配線ネット対として登録し(1d)、同様にして位置情報すべての組合せについて、前記選択された配線ネット対の登録処理を繰り返す(1e)。
請求項（抜粋）：
プリント基板上の異なる配線ネットへ立てた複数のプローブ間の導通状態を測定することで、該異なる配線ネット間のショートの有無を確認するXYインサーキットテスタによるショート・テストにおいて、前記プリント基板上のプリント・パターンの接続関係を示す配線ネット名、電子部品のリード・ピンや配線ビアの位置情報など、該プリント基板上の該電子部品の搭載状態を示す実装設計情報をあらかじめ記録手段に記録しておき、処理手段にて、前記実装設計情報を前記位置情報として含まれる座標値の順でソートした座標ファイルを作り(1a)、前記座標ファイルに含まれる前記位置情報により第1の調査位置を選択するとともに、前記座標ファイルの情報により該第1の調査位置に近接する第2の調査位置を選択し(1b)、前記第1の調査位置が属する第1の配線ネットと、前記第2の調査位置が属する第2の配線ネットとが、異なるかどうかを前記配線ネット名により調べ(1c)、前記第1の配線ネットと前記第2の配線ネットとが異なる場合、該第1の配線ネットと該第2の配線ネットとの組合せを選択された配線ネット対として登録し(1d)、同様にして位置情報すべての組合せについて、前記選択された配線ネット対の登録処理(1bないし1d)を繰り返す(1e)ことを特徴とするXYインサーキットテスタのテストポイント決定方法。
IPC (2件)：
FI (2件)：
G01R 31/28 K
, G01R 31/02
