特許
J-GLOBAL ID:200903050201829057

磁気ディスクのテクスチャー傷判定装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 梶山 佶是 (外1名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平5-069384
公開番号(公開出願番号):特開平6-258247
出願日: 1993年03月04日
公開日(公表日): 1994年09月16日
要約:
【要約】【目的】 磁気ディスクのテクスチャリング処理により、磁気膜の円周方向に生じた傷が一定長以上のときテクスチャー傷と判定する判定装置を、表面検査装置に付加する。【構成】 表面検査装置の受光器53の受光信号Sa を適当なレベルに増幅するアンプ91と、増幅された受光信号Sb を適当な閾値Ks で2値化して2値信号[Sb ]を出力する2値化回路92と、入力した2値信号が上記の一定長以上連続することを条件として、円周方向の傷をテクスチャー傷と判定するテクスチャー傷判定部94と、2値化回路92に対して閾値Ks を設定する閾値設定回路93と、テクスチャー傷判定部94に対して一定長に対応する時間幅Ts を任意に設定できるTs設定回路95、およびメモリ96とにより構成される。【効果】 磁気ディスクの検査が効率的になされるとともに、その信頼性が向上する。
請求項(抜粋):
スピンドルに装着されて回転する磁気ディスクの表面に対して、レーザスポットを照射して走査する投光系と、該スポットの反射光を受光する受光器を有する受光系、およびデータ処理部を具備する表面検査装置において、該表面検査に対して付加され、前記磁気ディスクの磁気膜のテクスチャリング処理により、該磁気膜の円周方向に生じた一定長以上のテクスチャー傷を対象とし、前記受光器の受光信号を適当なレベルに増幅するアンプと、該増幅された受光信号を適当な閾値で2値化して2値信号を出力する2値化回路と、入力した該2値信号が前記一定長以上連続することを条件として、前記円周方向の傷をテクスチャー傷と判定するテクスチャー傷判定部と、前記2値化回路に対して前記適当な閾値を設定する閾値設定回路、および前記テクスチャー傷判定部に対して前記一定長を任意に設定できる長さ設定回路とにより構成されたことを特徴とする、磁気ディスクのテクスチャー傷判定装置。
IPC (2件):
G01N 21/88 ,  G06F 15/68 320
引用特許:
審査官引用 (1件)
  • 特開平3-004149

前のページに戻る