特許
J-GLOBAL ID：200903050315070611
障害探索方式
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
井桁 貞一
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平6-296303
公開番号（公開出願番号）：特開平8-163134
出願日： 1994年11月30日
公開日（公表日）： 1996年06月21日
要約：
【要約】【目的】 ATM交換機に発生する障害箇所を探索する障害探索方式に関し、多大の測定器および観察要員を確保すること無く、極力短時間に的確に、効率良く障害箇所を確認可能とすることを目的とする。【構成】 試験用セルを所定数または連続的に送信し、また到着するセルを比較・解析する試験セル発生手段(300)と、ATM交換機内の各セル処理機能部(100)間に、通常セルの転送経路と、試験用セル挿入経路と、試験用セル抽出経路と、折返し転送経路とを準備し、外部から指定された経路を設定するセル挿入抽出手段(200)と、各セル処理機能部間に設けられている各セル挿入抽出手段の設定経路を指定する試験経路設定手段(400)を設け、所要の試験用セルを転送する試験経路を設定し、試験用セルを転送することにより、ATM交換機内に発生する障害を探索する様に構成する。
請求項（抜粋）：
ATM交換機に、所定数の試験用セルまたは連続する試験用セルを発生して外部に送信し、且つ外部から到着するセルを、指定されたセルと比較・解析する試験セル発生手段を設け、前記ATM交換機を構成する各セル処理機能部間に、前記ATM交換機内で使用される通常のセルを、一方のセル処理機能部から他方のセル処理機能部へ転送する通常転送経路と、前記試験セル発生手段から供給される試験用セルを前記通常転送経路に挿入する試験用セル挿入経路と、前記通常転送経路を経由して転送される前記試験用セルを抽出して前記試験セル発生手段に転送する試験用セル抽出経路と、前記一方のセル処理機能部から前記他方のセル処理機能部へ転送されるセルを、前記セルの送信元のセル処理機能部に折返し転送する折返し転送経路とを準備し、外部からの指定された経路を設定するセル挿入抽出手段を設け、前記ATM交換機に、前記各セル処理機能部間に設けられている前記各セル挿入抽出手段の設定経路を指定する試験経路設定手段を設け、前記ATM交換機内に所要の試験用セルを転送する試験経路を設定し、前記試験経路を経由して前記試験用セルを転送することにより、前記ATM交換機内に発生する障害を探索することを特徴とする障害探索方式。
IPC (3件)：
H04L 12/28
, H04L 12/26
, H04Q 3/00
H04L 11/20 D
, H04L 11/12
