特許
J-GLOBAL ID:200903050332687002

磁気刺激検出装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 本田 崇
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平5-218552
公開番号(公開出願番号):特開平7-067972
出願日: 1993年09月02日
公開日(公表日): 1995年03月14日
要約:
【要約】【目的】 磁気刺激を行う際に、無電源よる簡素な構成によって、刺激部位に対する磁気刺激パルスの磁束密度と、その電界強度とを的確に測定できるようにする。【構成】 刺激コイル10に磁気刺激パルス発生装置14からパルスSpを送出する。刺激コイル10は入力されるパルスSpに基づく磁束を発生して被検者Mの大脳に磁気刺激を与える。この磁束が刺激コイル10に密着して配置されるパルス磁束密度検出器12中のワンターン磁束検出コイル12bで検知され、磁束を検出した誘起電圧を発生する。この誘起電圧である検出信号Saが二本の絶縁線を撚り合わせて磁束に対する寄生開口面積を低減したリード線11を通じて導出され、積分器16及びアッテネータ18を通じて磁気刺激パルスの磁束密度と、その電界強度を示す積分電圧V1 及び分圧電圧V2 を得る。
請求項(抜粋):
薄手の絶縁基板と、磁束を検出した時に誘起電圧を発生するコイルであって、上記絶縁基板の一方の面上に配置された一つのワンターン磁束検出コイルと、2本の絶縁線を撚り合わせ上記ワンターン磁束検出コイルの両端部に1本ずつ接続されて上記誘起電圧を導出するリード線と、を備える磁気刺激検出装置。
引用特許:
審査官引用 (2件)
  • 特開平3-025385
  • 特開昭63-026720

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