特許
J-GLOBAL ID：200903050350182732
印刷物検査方法及び装置
発明者：
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出願人/特許権者：
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代理人 (1件)：
高矢 諭 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-158040
公開番号（公開出願番号）：特開平11-348240
出願日： 1998年06月05日
公開日（公表日）： 1999年12月21日
要約：
【要約】【課題】 面積は大きいが濃度差の殆どないような淡い印刷不良を確実に検出できるようにする。【解決手段】 印刷物検査装置において、検査画像と基準画像との差分画像を作成する差分絶対値回路30と、基準画像から、差分画像に残存する絵柄のエッジ部分をマスクする閾値画像を作成する閾値生成回路36と、前記差分画像を前記閾値画像でマスク処理してマスク済画像を作成するマスク回路40と、マスク済画像について16×16画素の矩形領域を単位に画素値を積算する積算回路42と、積算値が判定レベル以上のときに不良発生と判定する判定回路44とを備えている。
請求項（抜粋）：
印刷物をカメラで撮像して入力される検査画像を、予め作成してある基準画像と比較して印刷欠陥を検出する印刷物検査方法において、前記検査画像と基準画像との差分画像を作成するとともに、前記基準画像から、前記差分画像に残存する絵柄のエッジ部分をマスクする閾値画像を作成し、前記検査画像からの差分画像を前記閾値画像でマスク処理してマスク済画像を作成し、作成されたマスク済画像について、所定の矩形領域を単位に画素値を積算する積算処理を行い、その積算値が判定レベル以上のときに印刷不良発生と判定する判定処理を行うことを特徴とする印刷物検査方法。
引用特許：
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