特許

J-GLOBAL ID：200903050379727592

光レベル監視モジュール及び光レベル監視回路

発明者： 園田 裕彦 ,  長沼 典久 ,  寺山 芳一 ,  今井 一登
出願人/特許権者： 富士通株式会社
代理人 (1件)： 井桁 貞一
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-209507
公開番号（公開出願番号）：特開平9-055701
出願日： 1995年08月17日
公開日（公表日）： 1997年02月25日
要約：

【要約】【課題】 光レベル監視モジュール及び光レベル監視回路に関し、出力光レベルと反射光レベルを一のフォトダイオードで検出する光レベル監視モジュール及びそれに対応する光レベル監視回路を提供する。【解決手段】 少なくとも一の面にカプラ膜を形成したガラス体からなる光カプラと、少なくとも一の面に減衰膜を形成したガラス体からなる減衰素子と、一のフォトダイオードとを備え、該光カプラに入射し、カプラ膜によって分岐されて該減衰素子に向かって該光カプラを出射した光が、該減衰素子に形成された減衰膜に垂直に入射するように該光カプラと減衰素子とを配置し、該減衰素子によって反射されて該光カプラに再び入射された光が、該フォトダイオードの感応領域に入射するように該光カプラと該フォトダイオードとを配置する。

請求項（抜粋）：

少なくとも一の面にカプラ膜を形成したガラス体からなる光カプラと、少なくとも一の面に減衰膜を形成したガラス体からなる減衰素子と、一のフォトダイオードとを備え、該光カプラに入射し、該カプラ膜によって分岐されて該減衰素子に向かって該光カプラを出射した光が、該減衰素子に形成された該減衰膜に垂直に入射するように該光カプラと該減衰素子とを配置し、該減衰素子によって反射されて該光カプラに再び入射された光が、該フォトダイオードの感応領域に入射するように該光カプラと該フォトダイオードとを配置することを特徴とする光レベル監視モジュール。

IPC (2件)：

H04B 10/08 ,  H01L 31/0232

FI (2件)：

H04B 9/00 K ,  H01L 31/02 D