3次元形状計測装置

発明者： , ,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：松田正道
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-291363
公開番号（公開出願番号）：特開平10-170239
出願日： 1996年11月01日
公開日（公表日）： 1998年06月26日
要約：

【要約】【課題】少ない回数のパタン光投影と撮像によって実時間で動作する距離計測装置が従来存在しない。【解決手段】各波長毎の光についてマスクパタンを切り換え、各波長についてマスクパタンの透過光を合成して投影する光源部1を用い、パタン光を投影し、対象物での反射光を撮像部2で撮像した画像とパタンなしの光を投影し撮像した画像の差分画像を2値化手段41で2値化し、計測対象空間をコード化した画像を得、これを距離変換手段60で3次元座標に変換することにより、従来空間コード化のビット数に応じて必要であったパタン光投影の回数を大幅に減少させることができ、実時間での3次元距離計測を可能とする。

請求項（抜粋）：

複数の波長の光源と、各波長の光をコード化するマスク手段と、前記複数のコード化された光を合成し投影する合成手段と、物体からの前記投影光の反射光を撮像する撮像手段と、その撮像された反射光を複数の波長に分離する分離手段と、前記分離された波長毎の画像を記録する記憶手段と、前記波長毎の画像から物体の3次元座標値を計算する座標値計算部を具備することを特徴とする3次元形状計測装置。

IPC (3件)：

G01B 11/24 , G06T 7/00 , G06T 1/00

FI (3件)：

G01B 11/24 C , G06F 15/62 415 , G06F 15/64 320 C

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