特許

J-GLOBAL ID：200903050409702255

超音波診断装置

発明者： 西垣 森雄 ,  福喜多 博 ,  萩原 尚 ,  伊藤 嘉彦
出願人/特許権者： 松下電器産業株式会社
代理人 (1件)： 役 昌明 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平6-059858
公開番号（公開出願番号）：特開平7-241287
出願日： 1994年03月07日
公開日（公表日）： 1995年09月19日
要約：

【要約】【目的】 回路規模の増加やS/N比の劣化を伴うこと無く、複数エレメントの探触子および単一エレメントの探触子の双方を用いることができる超音波診断装置を提供する。【構成】 単一エレメントからなる第1の探触子18と複数のエレメントT1〜T4からなる第2の探触子1との双方の使用が可能な超音波診断装置において、エレメントの受信した信号をディジタル信号に変換する複数個のA/D変換器41〜44と、A/D変換器の各ディジタル出力を遅延加算するディジタルビーム合成手段5と、A/D変換器の各々の前段に位置する複数個の切換スイッチ61〜64とを設け、この切換スイッチにより、A/D変換器の各々に対する接続を、第1の探触子の単一エレメントまたは第2の探触子の各エレメントに切換える。単一エレメントの振動子で受信したエコーを複数のA/D変換器に入力し加算することで、量子化雑音を低減でき、高いS/N比を確保できる。

請求項（抜粋）：

単一エレメントからなる第1の探触子と複数のエレメントからなる第2の探触子との双方の使用が可能な超音波診断装置において、前記エレメントの受信した信号をディジタル信号に変換する複数個のA/D変換器と、前記A/D変換器の各ディジタル出力を遅延加算するディジタルビーム合成手段と、前記A/D変換器の各々の前段に位置する複数個の切換スイッチとを設け、前記切換スイッチにより、前記A/D変換器の各々に対する接続を、第1の探触子の単一エレメントまたは第2の探触子の各エレメントに切換えることを特徴とする超音波診断装置。

IPC (2件)：

A61B 8/00 ,  G01N 29/26 503

引用特許：

審査官引用 (3件)

• 特開平2-001247
  
• 特開昭61-008039
  
• 特開平1-160537