特許

J-GLOBAL ID：200903050417195443

測距装置

発明者： 野中 修
出願人/特許権者： オリンパス光学工業株式会社
代理人 (1件)： 伊藤 進
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-191888
公開番号（公開出願番号）：特開2000-028905
出願日： 1998年07月07日
公開日（公表日）： 2000年01月28日
要約：

【要約】【課題】装置の電源電圧が下がった状態の場合でも高精度の測距が可能で、コスト上も不利にならず、スペース的にも有利である測距装置を提供すること。【解決手段】本測距装置おいては、IRED1の投射光が投光レンズ2を介して被写体3に投射される。その反射光は、受光レンズ4を介してPSD5に入射し、AF用IC6に取り込まれる。そして、所定の基準被写体距離より近距離の場合、入射光スポットの光位置データXにより、また、遠距離の場合、入射光の光量データPにより被写体距離は求められる。電源電圧が低下したときに反射光量の低下により測距誤差が大きくなるが、上記基準被写体距離をより近い距離に切り換えて測距を行い、上記誤差を少なくし、精度のよい測距を行う。

請求項（抜粋）：

被写体に対して測距用光を投射する投射手段と、上記測距用光による被写体からの反射信号光を受光する受光手段と、上記受光手段の出力結果に基づく信号を記憶された所定の数値と比較、または、演算することによって、被写体距離を決定する演算手段とを有する測距装置において、電源電圧をモニタするモニタ手段を有し、上記演算手段は、上記モニタ手段の出力に従って上記所定の数値を変更することを特徴とする測距装置。

IPC (5件)：

G02B 7/32 ,  G01C 3/06 ,  G01S 17/10 ,  G02B 7/00 ,  G03B 13/36

FI (5件)：

G02B 7/11 B ,  G01C 3/06 A ,  G01S 17/10 ,  G02B 7/00 E ,  G03B 3/00 A

Fターム (46件)：

2F112AA09 ,  2F112BA06 ,  2F112BA07 ,  2F112BA10 ,  2F112CA02 ,  2F112CA12 ,  2F112DA26 ,  2F112DA28 ,  2F112DA40 ,  2F112EA05 ,  2F112FA07 ,  2F112FA25 ,  2F112FA29 ,  2F112FA50 ,  2F112GA10 ,  2H011AA01 ,  2H011BA14 ,  2H011BB04 ,  2H051AA01 ,  2H051BB20 ,  2H051CB23 ,  2H051CC03 ,  2H051CC10 ,  2H051CD05 ,  2H051CD24 ,  2H051CD30 ,  2H051CE06 ,  2H051CE16 ,  2H051GB09 ,  2H051GB12 ,  5J084AA05 ,  5J084AB17 ,  5J084AD06 ,  5J084AD07 ,  5J084BA02 ,  5J084BA14 ,  5J084BA20 ,  5J084BA33 ,  5J084BB02 ,  5J084CA14 ,  5J084CA23 ,  5J084CA44 ,  5J084CA49 ,  5J084CA78 ,  5J084EA31 ,  5J084EA40