特許
J-GLOBAL ID:200903050445236171

非接触式回転角検出のための測定装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 矢野 敏雄 (外4名)
公報種別:公表公報
出願番号(国際出願番号):特願2000-582767
公開番号(公開出願番号):特表2002-530636
出願日: 1999年09月22日
公開日(公表日): 2002年09月17日
要約:
【要約】この発明は、回転角γの非接触式検出のための測定装置であって、軟磁性体材料からなる支持プレート(14)で構成されており、このプレートがロータとして用いられている。この支持プレート(14)に対する1つの面には、スリット(21)とスペーサ(22)で分離された2つのセグメント(16,17)が配設されている。支持プレート(14)はシャフト(11)に固定されておりその突起(12)ないしこのシャフト(11)自体は導磁性材料からなっている。支持プレート(14)上には磁石(15)が設けられており、この磁石は回転角γよりも小さく構成されている。この磁石は一体型もしくは多分割型で構成されてもよい。磁石(15)の配置構成によって、測定装置によって検出される測定曲線に様々な区分を形成することが可能となる。
請求項(抜粋):
ステーター(16,17)とローター(14)の間の非接触式の回転角γ検出のための測定装置であって、 ステーター(16,17)とローター(14)の間に空隙が存在し、ステーター(16,17)が少なくとも2つのセグメント(16,17)からなり、前記セグメントは非導磁性の間隙(21,22)によって分離されており、少なくとも1つの間隙(21)内には少なくとも1つの磁界反応性の素子(25)が存在しており、前記ステーターの少なくとも一部(17)はローター(14)と導磁的な接続を形成していない形式の測定装置において、 磁石(15)が、測定すべき回転角γよりも小さく構成されていることを特徴とする、非接触式回転角検出のための測定装置。
IPC (2件):
G01D 5/14 ,  G01B 7/30 101
FI (3件):
G01D 5/14 H ,  G01D 5/14 Q ,  G01B 7/30 101 A
Fターム (11件):
2F063AA35 ,  2F063BA06 ,  2F063DA05 ,  2F063DD03 ,  2F063GA52 ,  2F063KA01 ,  2F077CC02 ,  2F077JJ01 ,  2F077JJ07 ,  2F077JJ23 ,  2F077VV01

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