特許

J-GLOBAL ID：200903050510700328

計測装置

発明者： 徳南 敬雄 ,  植木 浩一 ,  新村 紀夫 ,  藤井 裕史
出願人/特許権者： 松下電器産業株式会社
代理人 (1件)： 岩橋 文雄 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-326359
公開番号（公開出願番号）：特開2000-146648
出願日： 1998年11月17日
公開日（公表日）： 2000年05月26日
要約：

【要約】【課題】 測定回路の消費電力の増加を抑えて計測精度を向上する。【解決手段】 粗測定区の測定サンプリング周期TLを精密測定区の測定サンプリング周期TH1より短くし、精密測定区の測定サンプリング間隔の合間に粗測定区の測定サンプリングを配し、粗測定区の計測値が所定の計測閾値を超えた時、精密測定区の測定サンプリング周期をTH2に短くする。

請求項（抜粋）：

一計測サンプリング時の繰り返し測定数を多くして測定精度を高めた精密測定区と、繰り返し測定数の少ない粗測定区を設け、粗測定区の測定サンプリング周期を精密測定区の測定サンプリング周期より短くし、精密測定区の測定サンプリング間隔の合間に粗測定区の測定サンプリングを配し、粗測定区の計測値が所定の計測閾値を超えた時、精密測定区の測定サンプリング周期を短くするようにした計測装置。

Fターム (1件)：

2F035DA14

引用特許：

出願人引用 (1件)

• 流量計測装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平7-171838   出願人：松下電器産業株式会社