特許
J-GLOBAL ID:200903050522542132

電極チップの交換時期検知方法およびその装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 田渕 経雄
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平5-227410
公開番号(公開出願番号):特開平7-080655
出願日: 1993年09月13日
公開日(公表日): 1995年03月28日
要約:
【要約】【目的】 電極チップの損耗量を正確に把握し、電極チップの最適交換時期を検知する。【構成】 新品の電極チップ24、33を取付けた状態で板厚Tの被溶接物90を加圧し、無通電加圧状態での電極チップ33の位置X1 を記憶し、スポット溶接時には記憶された電極チップ33の位置X1 と使用によって損耗した電極チップ24、33による板厚Tの被溶接物90の加圧時の電極チップ33の位置X2とを比較して損耗した電極チップ24、33の損耗量X1 -X2 を算出し、電極チップ24、33の損耗量X1 -X2 が予め設定された限界値dに達しているか否かを判定する。
請求項(抜粋):
新品の電極チップを取付けた状態で所定の板厚の被溶接物を加圧し、無通電加圧状態での電極チップの位置を記憶し、スポット溶接時には、前記記憶された電極チップの位置と使用により損耗した電極チップによる所定の板厚の被溶接物の加圧時の電極チップの位置とに基づき損耗した電極チップの損耗量を算出し、該算出された電極チップの損耗量が予め設定された限界値を越えた場合に電極チップの交換時期であると判定することを特徴とする電極チップの交換時期検知方法。
IPC (4件):
B23K 11/24 336 ,  B23K 11/30 ,  G01B 5/00 ,  G01B 21/00
引用特許:
審査官引用 (3件)
  • 特開平1-192484
  • 特開平1-192485
  • 特開平1-215474

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