特許

J-GLOBAL ID：200903050555863236

電子スピン共鳴の測定法および電子スピン共鳴測定装置

発明者： 丹野 直弘 ,  大矢 博昭 ,  福井 孝一 ,  鵜野 克宏
出願人/特許権者： 財団法人山形県テクノポリス財団
代理人 (1件)： 塩澤 寿夫 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-255858
公開番号（公開出願番号）：特開平10-104181
出願日： 1996年09月27日
公開日（公表日）： 1998年04月24日
要約：

【要約】【目的】試料の部分から全体にわたるさまざまなスケールの電子スピン共鳴現象を高感度で測定することができる電子スピン共鳴測定法および測定装置を提供する。【構成】磁場と電磁波を印加した試料にレーザー光を照射し、その透過光の変位を測定することによって試料の電子スピン共鳴を測定することを含む、電子スピン共鳴の測定法;および、試料管を挿入した空洞共振器、試料管に電磁波を照射する電磁波発振器、空洞共振器中に磁場を形成する磁場形成器、試料管にレーザー光を照射するレーザー光発振器および試料を透過したレーザー光の変位を測定するレーザー光測定器を備えた電子スピン共鳴測定装置。

請求項（抜粋）：

磁場と電磁波を印加した試料にレーザー光を照射し、その透過光の変位を測定することによって試料の電子スピン共鳴を測定することを含む、電子スピン共鳴の測定法。