特許
J-GLOBAL ID：200903050579717052

白線認識方法および装置

発明者：
松下 正明

松下 正明 について


出願人/特許権者：
スズキ株式会社

スズキ株式会社 について


代理人 (1件)： 高橋 勇
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-012098
公開番号（公開出願番号）：特開平11-195127
出願日： 1998年01月06日
公開日（公表日）： 1999年07月21日
要約：
【要約】【課題】 白線部分に影などが生じていて輝度差が小さい場合であっても良好に白線領域を認識すること。【解決手段】 白線を含む画像を入力する画像入力工程(ステップS1)と、この画像入力工程S1で入力された入力画像の輝度変化地点を抽出するエッジ抽出工程(図示せず)と、このエッジ抽出工程で抽出したエッジの角度を算出するエッジ角度算出工程(ステップS2)と、エッジ抽出工程で抽出したエッジのうちエッジ角度算出工程S2で算出された角度が対になっているエッジを抽出する対エッジ抽出工程(ステップS3〜S6)と、この対エッジ抽出工程S3〜S6で抽出されたエッジに囲まれた領域を白線と判定する白線判定工程(ステップS7)とを備えた。
請求項（抜粋）：
白線を含む画像を入力する画像入力工程と、この画像入力工程で入力された入力画像の輝度変化地点を抽出するエッジ抽出工程と、このエッジ抽出工程で抽出したエッジの角度を算出するエッジ角度算出工程と、前記エッジ抽出工程で抽出したエッジのうち前記エッジ角度算出工程で算出された角度が対になっているエッジを抽出する対エッジ抽出工程と、この対エッジ抽出工程で抽出されたエッジに囲まれた領域を白線と判定する白線判定工程とを備えたことを特徴とする白線認識方法。
IPC (5件)：
G06T 9/20 ,  G06T 1/00 ,  H04N 7/18 ,  G05D 1/02 ,  G08G 1/16
FI (5件)：
G06F 15/70 335 Z ,  H04N 7/18 Z ,  G05D 1/02 K ,  G08G 1/16 C ,  G06F 15/62 380
引用特許：
審査官引用 (4件)
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