特許

J-GLOBAL ID：200903050580359623

被写体情報測定装置

発明者： 岩根 透
出願人/特許権者： 株式会社ニコン
代理人 (1件)： 井上 義雄
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-012037
公開番号（公開出願番号）：特開平11-194018
出願日： 1998年01月06日
公開日（公表日）： 1999年07月21日
要約：

【要約】【課題】 簡単に物体の3次元情報を得ることができる被写体情報測定装置を提供すること。【解決手段】 被写体OBに測距用の光束を照射するための投光素子部LSと前記被写体からの反射光を受光する受光素子部DETとからなる測距装置と、前記投光素子部LSからの測距用光束を用いて所定の視野内を走査するための光走査装置GM、PMと、前記被写体OBの前記走査した位置の測距情報を格納する記憶装置DMとを有する。

請求項（抜粋）：

被写体に測距用の光束を照射するための投光素子部と前記被写体からの反射光を受光する受光素子部とからなる測距装置と、前記投光素子部からの測距用光束を用いて所定の視野内を走査するための光走査装置と、前記被写体の前記走査した位置の測距情報を格納する記憶装置とを有することを特徴とする被写体情報測定装置。

IPC (6件)：

G01B 11/24 ,  G01B 11/00 ,  G01C 3/06 ,  G01C 15/00 ,  G02B 7/28 ,  G02B 7/32

FI (6件)：

G01B 11/24 A ,  G01B 11/00 H ,  G01C 3/06 Z ,  G01C 15/00 A ,  G02B 7/11 N ,  G02B 7/11 B