特許

J-GLOBAL ID：200903050592813451

希望波対干渉波電力比測定回路および希望波対干渉波電力比測定方法

発明者： 伊大知 仁
出願人/特許権者： 松下電器産業株式会社
代理人 (1件)： 鷲田 公一
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-341648
公開番号（公開出願番号）：特開2002-152147
出願日： 2000年11月09日
公開日（公表日）： 2002年05月24日
要約：

【要約】【課題】 バイアス誤差を補正して希望波対干渉波電力比の測定精度を向上させること。【解決手段】 予め求められたSIRの特性図から決定された第一補正係数を干渉波電力に乗算した希望波電力から減算して希望波電力に含まれる干渉波成分を除去することにより、低SIR領域でのバイアス誤差を補正する。また、予め求められたSIRの特性図から決定された第二補正係数を希望波電力に乗算した値を干渉波電力から減算して干渉波電力に含まれる希望波成分を除去することにより、高SIR領域でのバイアス誤差を補正する。

請求項（抜粋）：

受信信号の希望波電力を測定する第一測定手段と、前記受信信号の干渉波電力を測定する第二測定手段と、希望波対干渉波電力比を算出する希望波対干渉波電力比算出手段と、補正係数を用いて前記希望波対干渉波電力比に含まれるバイアス誤差を補正する補正手段と、を具備することを特徴とする希望波対干渉波電力比測定回路。

IPC (4件)：

H04B 17/00 ,  G01R 29/00 ,  G01R 29/26 ,  H04B 7/26

FI (4件)：

H04B 17/00 C ,  G01R 29/00 G ,  G01R 29/26 A ,  H04B 7/26 K

Fターム (19件)：

5K042AA06 ,  5K042AA07 ,  5K042CA02 ,  5K042CA12 ,  5K042CA23 ,  5K042DA01 ,  5K042DA04 ,  5K042DA16 ,  5K042EA15 ,  5K042FA18 ,  5K042FA29 ,  5K067AA03 ,  5K067CC10 ,  5K067CC24 ,  5K067DD44 ,  5K067DD45 ,  5K067HH21 ,  5K067KK03 ,  5K067LL11

引用特許：

審査官引用 (2件)

• SIR測定装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平8-349575   出願人：富士通株式会社
• 検波信号の希望波電力対干渉波電力比測定装置およびその方法
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平11-051744   出願人：三菱電機株式会社