特許

J-GLOBAL ID：200903050612251463

表面品質検査方法

発明者： 山本 一男 ,  波多野 利和 ,  植木 勝也 ,  高嶋 和夫
出願人/特許権者： 新日本製鐵株式会社 ,  三菱電機株式会社
代理人 (1件)： 田北 嵩晴
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-239033
公開番号（公開出願番号）：特開平9-061131
出願日： 1995年08月25日
公開日（公表日）： 1997年03月07日
要約：

【要約】【課題】 本発明は鉄鋼プロセスにおいて製造される鋳片や鋼板などといった材料の表面形状計測や表面疵検査を行う表面品質検査の向上を目的とするものである。【解決手段】 撮像手段により被検査材表面を2次元画像として撮像する場合に、被検査材と被検査材表面の画像を撮像する2次元撮像素子との間に、該被検査材画像を一方向に圧縮する光学的変換器を設け、該光学的変換器を通して得られる画像に画像処理を施して被検査材の表面品質を検査する方法において、該光学的変換器が凸面鏡のように一方向にのみ曲率のついた鏡面状のものであり、被検査材上の大きな縦横比を持つ長方形の画像を、正方形または小さな縦横被を持つ長方形の2次元撮像素子上に結像させて撮像することを特徴とする。

請求項（抜粋）：

撮像手段により被検査材表面を2次元画像として撮像する場合に、被検査材と被検査材表面の画像を撮像する2次元撮像素子との間に、該被検査材画像を一方向に圧縮する光学的変換器を設け、該光学的変換器を通して得られる画像に画像処理を施して被検査材の表面品質を検査する方法において、該光学的変換器が凸面鏡のように一方向にのみ曲率のついた鏡面状のものであり、被検査材上の大きな縦横比を持つ長方形の画像を、正方形または小さな縦横比を持つ長方形の2次元撮像素子上に結像させて撮像することを特徴とする表面品質検査方法。

IPC (5件)：

G01B 11/24 ,  B21C 51/00 ,  B22D 11/16 104 ,  G01B 11/30 ,  G01N 21/89

FI (5件)：

G01B 11/24 G ,  B21C 51/00 P ,  B22D 11/16 104 N ,  G01B 11/30 E ,  G01N 21/89 B