特許

J-GLOBAL ID：200903050638359920

スキャンフリップフロップ及びこれを内蔵した半導体集積装置

発明者： 舩崎 健治
出願人/特許権者： セイコーエプソン株式会社
代理人 (1件)： 鈴木 喜三郎 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-003940
公開番号（公開出願番号）：特開2001-196539
出願日： 2000年01月12日
公開日（公表日）： 2001年07月19日
要約：

【要約】【課題】 半導体集積装置のテストにおいて、ユーザがスキャンシフト動作モードにおけるリセット信号/セット信号の状態を考慮することなくテスト装置を設計することができるスキャンフリップフロップを提供すること。【解決手段】 第1のデータと第2のデータとが並列に入力され、選択信号に従って第1及び第2のデータの内の一方を選択して出力する選択回路1と、選択回路1から出力されるデータをクロック信号に同期して保持すると共に出力し、リセット信号/セット信号に応答して出力状態をリセット/セットするフリップフロップ回路2と、選択信号が所定の状態のときにリセット信号/セット信号がフリップフロップ回路2に印加させるのを阻止するゲート回路3とを具備する。

請求項（抜粋）：

第1のデータと第2のデータとが並列に入力され、選択信号に従って前記第1及び第2のデータの内の一方を選択して出力する選択回路と、前記選択回路から出力されるデータをクロック信号に同期して保持すると共に出力し、リセット信号に応答して出力状態をリセットするフリップフロップ回路と、前記選択信号が所定の状態のときに前記リセット信号が前記フリップフロップ回路に印加させるのを阻止するゲート回路と、を具備することを特徴とするスキャンフリップフロップ。

IPC (4件)：

H01L 27/04 ,  H01L 21/822 ,  G01R 31/28 ,  G06F 11/22 360

FI (3件)：

G06F 11/22 360 P ,  H01L 27/04 T ,  G01R 31/28 G

Fターム (18件)：

2G032AA01 ,  2G032AC10 ,  2G032AD06 ,  2G032AE07 ,  2G032AG07 ,  2G032AH01 ,  2G032AK16 ,  5B048AA20 ,  5B048CC18 ,  5B048FF01 ,  5F038BH19 ,  5F038DF01 ,  5F038DT05 ,  5F038DT06 ,  5F038EZ20 ,  9A001BB05 ,  9A001KK31 ,  9A001LL05