特許

J-GLOBAL ID：200903050644721046

半導体装置

発明者： 遠藤 俊介
出願人/特許権者： 三菱電機株式会社
代理人 (1件)： 深見 久郎 (外4名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-371417
公開番号（公開出願番号）：特開2002-175698
出願日： 2000年12月06日
公開日（公表日）： 2002年06月21日
要約：

【要約】【課題】 シリアルテストエントリ時におけるテスト装置の制約およびユーザ側の誤エントリの可能性を抑制して効率的にスーパVIH(SVIH)条件のテストモードにエントリする。【解決手段】 スーパーVIH条件を検出するレベル検出回路(121)の出力信号を、強制回路(5)により、有効状態または無効状態に設定して、テスト制御回路(125a-125n)に与える。

請求項（抜粋）：

特定ノードの電圧が第1の電圧のとき特定モード指示信号を活性化するためのモード検出回路、前記モード検出回路の出力信号と動作モード指示信号とに応答して、前記動作モード指示信号が指定する動作を活性化するための制御信号を生成するための制御信号発生回路、および前記特定モード指示信号を強制的に活性化するための強制回路を備える、半導体装置。

IPC (4件)：

G11C 29/00 671 ,  G01R 31/3185 ,  G01R 31/28 ,  G11C 11/401

FI (4件)：

G11C 29/00 671 T ,  G01R 31/28 W ,  G01R 31/28 B ,  G11C 11/34 371 A

Fターム (19件)：

2G032AA07 ,  2G032AB02 ,  2G032AC03 ,  2G032AD05 ,  2G032AG02 ,  2G032AG07 ,  2G032AG09 ,  2G032AH04 ,  2G032AK14 ,  5B024AA03 ,  5B024AA15 ,  5B024BA21 ,  5B024BA29 ,  5B024CA07 ,  5B024EA04 ,  5L106AA01 ,  5L106DD11 ,  5L106DD12 ,  5L106GG05