特許
J-GLOBAL ID：200903050680207278
疵検査装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
杉信 興
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-073783
公開番号（公開出願番号）：特開平8-271440
出願日： 1995年03月30日
公開日（公表日）： 1996年10月18日
要約：
【要約】【目的】 金属,フィルム,紙,半導体等の生産ラインにおいて、疵部分の画像をリアルタイムに表示して検査員に疵の画像情報を提示する。疵発生確認漏れ、特に重要な疵の確認漏れの防止。【構成】 疵の種類あるいは程度を自動的に分類する手段と、分類された疵の種類あるいは程度に応じて、疵の画像情報の表示を制御する手段を備える。更に、分類された疵の種類あるいは程度に応じて、評価点を設定する手段と、しきい値以上の評価点の疵の画像のみを表示する制御手段を備える。更に、制御手段は、ある時間またはある通板長さの中に検出された疵のうち評価点の最も大きなもののみを優先して表示する。
請求項（抜粋）：
金属,フィルム,紙,半導体等の生産ラインにおいて適用され、投光装置と受光装置と、受光装置の出力信号処理を行う信号処理回路と、その出力を一時記憶するビデオメモリおよびゲ-ト回路と、疵部を判定する疵弁別回路と、疵部の画像のみを切り出す画像切りだし制御回路と切り出された画像を記憶するフレ-ムメモリと、この画像を表示するための画像表示用フレ-ムメモリとCRT装置により構成され、疵部分の画像をリアルタイムに表示して検査員に疵の画像情報を提示する疵検査装置において、疵の種類あるいは程度を自動的に分類する手段と、分類された疵の種類あるいは程度に応じて、疵の画像情報の表示の有無を制御する手段とを具備することを特徴とする疵検査装置。
引用特許：
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