特許

J-GLOBAL ID：200903050692218402

質量分析計及びイオン源

発明者： 高田 安章 ,  平林 由紀子 ,  鍋島 貴之 ,  坂入 実
出願人/特許権者： 株式会社日立製作所
代理人 (1件)： 小川 勝男
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-055879
公開番号（公開出願番号）：特開平10-255715
出願日： 1997年03月11日
公開日（公表日）： 1998年09月25日
要約：

【要約】【課題】試料分子のイオン強度が強く得られ、かつ安定した噴霧を実現できる大気圧噴霧イオン源を備えた液体クロマトグラフ質量分析計を提供する。【解決手段】細管11の先端付近に減圧空間17を生じさせないように細管の形状または構造を工夫する。例えば、細管11の断面積を先端ほど小さくし、気流19を生じやすくする。

請求項（抜粋）：

溶媒と溶質とからなる試料溶液を導入する細管と、上記細管の末端から上記試料溶液を加熱噴霧しイオンを生成する大気圧噴霧イオン源と、上記イオンを質量分析するための質量分析部とからなる質量分析計において、上記細管の断面積が末端で最小となることを特徴とする質量分析計。

IPC (3件)：

H01J 49/04 ,  G01N 27/62 ,  H01J 49/10

FI (4件)：

H01J 49/04 ,  G01N 27/62 X ,  G01N 27/62 G ,  H01J 49/10