生産ライン追跡・品質管理システムおよび品質管理方法

発明者： , , ,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：田澤博昭 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-168130
公開番号（公開出願番号）：特開平8-215997
出願日： 1995年06月10日
公開日（公表日）： 1996年08月27日
要約：

【要約】 (修正有)【目的】コンタクトレンズ製造設備において一またはそれ以上のコンタクトレンズ半型またはこれを補足する。またはそれ以上の第二コンタクトレンズ半型を載せる一連のパレットから成る生産ライン追跡・品質管理システムを得る。【構成】各パレットには、独自の識別コードが含まれる。コンタクトレンズ製造処理を実時間監視する制御装置が設けられている。制御装置はさらに、またはそれ以上の処理装置において監視された処理条件値を連続的に受け取りながら、各装置において各パレットの独自のコードを識別する追跡装置を備えている。処理条件が所定範囲外である場合には、制御装置が、識別された各パレットについて、拒絶フラグの形の処理状況情報をメモリ記憶のために生成し、または処理条件が所定範囲内であるとを示す許容フラグを生成する。処理装置に出入りする際にパレットが識別されて各パレットの状況が検査されると、処理状況情報は更新される。

請求項（抜粋）：

(a)コンタクトレンズ製造設備において、一またはそれ以上の第一コンタクトレンズ半型または一またはそれ以上の補足的な第二コンタクトレンズ半型を搬送するためのもので、それぞれ独自の識別番号を含むパレット列と、(b)一またはそれ以上の処理装置を含む前記コンタクトレンズ製造設備において、前記パレット列を搬送するためのコンベヤ装置と、(c)前記一またはそれ以上の処理装置においてコンタクトレンズの製造プロセスを実時間監視するために設けられ、前記設備の一またはそれ以上の処理装置において前記パレットのそれぞれの前記独自の識別コードを識別するための第一追跡手段を各処理装置における処理条件値を受け取って、この処理条件が所定範囲外の場合に識別済の各パレットに関する処理状況情報を拒絶フラグの形で生成する制御装置と、から成る、生産ライン追跡・品質管理システム。

IPC (5件)：

B23Q 41/08 , B23Q 41/00 , B24B 13/00 , G06F 17/60 , G07C 3/14

FI (6件)：

B23Q 41/08 Z , B23Q 41/00 B , B24B 13/00 D , B24B 13/00 B , G07C 3/14 , G06F 15/21 R

引用特許：

審査官引用 (5件)

特開平4-008436
特開平2-250755
特開平2-212049

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