特許
J-GLOBAL ID：200903050698185948
解析装置及びこれを備えた機械設備と解析プログラム
発明者：
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出願人/特許権者：
,
代理人 (2件)：
塩入 明
, 塩入 みか
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2004-362414
公開番号（公開出願番号）：特開2006-169661
出願日： 2004年12月15日
公開日（公表日）： 2006年06月29日
要約：
【構成】 延伸仮撚加工機での異常張力波形を用いてSOMを学習させ、SOMのユニットに異常原因をラベル付けする。その後に得られた異常データと元の異常データとを併せて、SOMを再学習させ、元の異常データでSOMをラベル付けし、ラベルが付与されなかったユニットのクラスターを検出する。【効果】 新たな異常モードの出現を検出できる。【選択図】 図4
請求項（抜粋）：
異常データを含む初期的な学習データのセットにより、複数のコードブックベクトルの値を修正するように学習し、かつ前記コードブックベクトルに解析対象の状態をラベルとして付すようにした、解析装置において、
前記学習データのセットとは異なる第2の学習データのセットにより、前記複数のコードブックベクトルを再学習させると共に、状態が既知のデータに近接したコードブックベクトルに、前記既知の状態をラベルとして付すための手段と、
再学習の際にラベルが付されないコードブックベクトルを抽出するための手段、とを設けたことを特徴とする、解析装置。
IPC (3件)：
D02G 1/02
, B65H 63/00
, D01H 13/14
D02G1/02 A
, B65H63/00 Z
, D01H13/14
3F115CA37
, 3F115CD08
, 4L036AA01
, 4L036PA14
, 4L056EB30
, 4L056ED03
