特許

J-GLOBAL ID：200903050703610806

物体形状計測法およびその装置

発明者： 森本 吉春
出願人/特許権者： 森本 吉春
代理人 (1件)： 筒井 秀隆
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-034566
公開番号（公開出願番号）：特開平5-203423
出願日： 1992年01月24日
公開日（公表日）： 1993年08月10日
要約：

【要約】【目的】光切断法において物体表面の三次元形状を高速でかつ少ないメモリで計測する方法を提供すること。【構成】物体の高さ情報を求めるために、物体1′を載せたテーブル3′の高さhを変えながら、撮像装置7′でスリット像6′を撮影し、その出力信号をデジタル画像入力装置9′でデジタル化し、最大輝度値記憶用二次元画像メモリ15に最大輝度値を、高さ情報記憶用二次元画像メモリ16に最大輝度値をとるときの高さ情報を記憶する。最終的に二次元画像メモリ16には被測定物表面の三次元形状を示す座標値が記憶されている。

請求項（抜粋）：

物体表面に一層あるいは平行等間隔な複数層のスリット光を照射するスリット光発生装置と、その物体上に照射されたスリット光によるスリット像を撮像する撮像装置とを備え、スリット光発生装置と撮像装置とに対して相対的に物体を平行移動させながら撮像することにより、物体の三次元形状を計測する方法において、上記撮像装置内の結像面の各画素において明るさが最大となったときに、その画素に対応する二次元画像メモリに物体の相対移動距離に相当する情報を記憶させることを特徴とする物体形状計測法。