測定装置

発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：早川誠志
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-329727
公開番号（公開出願番号）：特開2001-147136
出願日： 1999年11月19日
公開日（公表日）： 2001年05月29日
要約：

【要約】【課題】測定効率を向上させる。【解決手段】入力信号Sの特性値の算出処理、特性値に対する判定処理およびアナログ処理回路21やディジタル処理回路31の処理条件の切り換え処理をDSP40が行い、操作部46から指定された測定条件のメモリ41への設定、DSP40に対する測定の開始指示および測定結果の出力装置47への出力等の外部とのインタフェース処理をCPU45aを含む制御装置45で一括して行うようにしている。

請求項（抜粋）：

測定対象の入力信号に対してアナログ信号処理を行うアナログ処理回路(21)と、前記アナログ処理回路によって処理された信号をディジタル信号に変換するA/D変換器(30)と、前記A/D変換器から出力されるディジタル信号に対する演算処理を行って前記入力信号の特性値を検出するとともに、前記特性値が所定条件を満たすか否かを判断し、満たさない場合には満たすまで前記アナログ処理回路の処理条件を変えて処理させ、満たした場合にはその特性値を出力するDSP(40)と、測定結果を出力するための出力装置(47)と、測定条件を入力するための操作部(46)と、CPUを含むマイクロコンピュータによって構成され、前記DSP、操作部及び出力装置に接続されて、前記DSPと操作部の間の信号授受及び前記DSPと前記出力装置の間の信号授受の一切を行うとともに、少なくとも前記DSPによって検出された特性値を前記入力信号に対する測定結果として前記出力装置に出力する制御装置(45)とを備えた測定装置。

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