特許

J-GLOBAL ID：200903050767745543

A/Dコンバータをテストする方法と装置

発明者： ミロスロウ グジンスキー ,  ジェームズ ルイス レワンドウスキー ,  ビクター ジュリアン ベラスコ ,  シアンリング ウー
出願人/特許権者： エイ・ティ・アンド・ティ・コーポレーション
代理人 (1件)： 三俣 弘文
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平6-168604
公開番号（公開出願番号）：特開平7-154258
出願日： 1994年06月29日
公開日（公表日）： 1995年06月16日
要約：

【要約】【目的】 A/Dコンバータに内蔵され、自己テストが可能で、全てのコードが生成されているか否かのテスト装置、及び方法を提供する。【構成】 本発明のA/Dコンバータのテスト装置のテスト方法は、このA/Dコンバータに、A/Dコンバータが適切に動作しているときには、テスト用に全てのコードの個別の一つを生成するように変化する電圧を印加する。A/Dコンバータの出力は、カウンタの出力と比較される。このカウンタの出力は、A/Dコンバータの出力コードが、カウンタのカウントに等しいとき毎に、そのカウントを単純に増分するように、動作する。その入力電圧の、各値において、A/Dコンバータは適切に動作していると、その異なるコードの対応する一つを生成する。かくして、カウンタのカウントが所定のカウント(nビット幅のA/Dコンバータに置いては、2n-1)を所定の期間内に超えると、A/Dコンバータは、その全てのコードを生成し、それゆえに適切に機能していることになる。

請求項（抜粋）：

アナログ電圧の振幅に応じて、一組のコードの一つを生成するnビット幅のA/Dコンバータ(12)が、その全てのコードを生成しているか否かをテストする方法において、(a)A/Dコンバータが適切に動作しているときに、印加電圧Vtは、A/Dコンバータがその全てのコードを連続的に生成するように、このA/Dコンバータに、0からVボルトまで変化する振幅を有する電圧Vtをかけるステップと、(b)A/Dコンバータにより、生成された各コードと、ゼロに初期化されたnビットカウンタ(20)のカウントとを比較するステップと、(c)A/Dコンバータにより生成されたコードが、前記カウンタのカウントにマッチするごとに、カウンタのカウントを増分するステップと、(d)所定期間後、前記カウンタがA/Dコンバータが適切に動作しているときに、発生するオーバーフロー条件を意味する、桁上げビットを生成するか否かをチェックするステップとからなることを特徴とする、A/Dコンバータの試験方法。

IPC (2件)：

H03M 1/10 ,  G01R 31/316