特許
J-GLOBAL ID:200903050800485218

物体認識装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 藤谷 修
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平3-349963
公開番号(公開出願番号):特開平5-157518
出願日: 1991年12月09日
公開日(公表日): 1993年06月22日
要約:
【要約】【目的】 物体の位置・姿勢の認識精度を向上させること【構成】 エッジ画像において物体の特徴部を抽出する特徴部抽出手段20と、特徴部の画像面上における存在位置に基づいて物体の実空間における一次的な位置・姿勢を求める一次的位置・姿勢演算手段30と、一次的な位置・姿勢に基づいて物体の輪郭を画像面上に仮想しその輪郭の存在位置を中心にして微小幅でその輪郭に沿って所定長さを有する探索領域を画像面上に輪郭に沿って可動的に設定する探索領域設定手段50,60と、輪郭に沿って可動的に設定される探索領域毎に濃淡画像を再処理して物体画像の正確なエッジを抽出することにより、物体全体の輪郭に該当する精密エッジを抽出する精密エッジ抽出手段70と、精密エッジの画像面上の存在位置から物体の実空間における位置・姿勢を演算する位置・姿勢演算手段80を設けている。
請求項(抜粋):
物体をカメラで撮像することにより画像面上に形成された物体画像から物体の位置及び姿勢を認識する物体認識装置において、前記カメラによる前記物体の撮像により、前記物体の濃淡画像を前記画像面上に得る濃淡画像撮像手段と、前記濃淡画像の微分画像を2値化したエッジ画像を前記画像面上に生成するエッジ画像生成手段と、前記エッジ画像において、物体の全体の輪郭に対する相対的関係が既知な物体の特徴部を抽出する特徴部抽出手段と、前記特徴部の前記画像面上における存在位置に基づいて前記物体の実空間における一次的な位置・姿勢を求める一次的位置・姿勢演算手段と、前記物体の一次的な位置・姿勢に基づいて、前記物体の輪郭を前記画像面上に仮想し、その輪郭の存在位置を中心にして微小幅でその輪郭に沿って所定長さを有する探索領域を前記画像面上に輪郭に沿って可動的に設定する探索領域設定手段と、輪郭に沿って可動的に設定される前記探索領域毎に、前記濃淡画像又は微分画像を再処理して物体画像の正確なエッジを抽出することにより、物体全体の輪郭に該当する精密エッジを抽出する精密エッジ抽出手段と、前記精密エッジの前記画像面上の存在位置から前記物体の実空間における位置・姿勢を演算する位置・姿勢演算手段と、を有することを特徴とする物体認識装置。
IPC (2件):
G01B 11/00 ,  G06F 15/70 330

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